采购公告 [2017]沪电设备采购第14号

仪器设备采购

[20 17]沪电设备采购第14

  

  上海电力学院数理学院因教学及科研需要,拟采用询价方式采购“少子寿命测试仪”。邀请具有相应设备生产和安装资质能力的制造商或经销商前来参加。

一、采购设备名称

少子寿命测试仪,预算:人民币  150000 元。

二、采购设备名称及要求:

1.本标项目技术要求详见:“少子寿命测试仪需求表”。

序号

设备名称

数量

技术指标

1

少子寿命测试仪

1

一、设备用途

测试范围广:包括硅块、硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶、硅片、锗单晶片等的少子寿命及锗单晶的少子寿命测量。

1主要应用于硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶、硅块、硅片、锗单晶的进厂、出厂检查,生产工艺过程中重金属沾污和缺陷的监控等。

2适用于低阻硅料少子寿命的测量,电阻率测量范围可达ρ>0.1Ω·cm(可扩展至0.01Ω·cm),完全解决微波光电导无法检测低阻单晶硅的问题。

3全程监控动态测试过程,避免了微波光电导(u-PCD)无法观测晶体硅陷阱效应,表面复合效应缺陷的问题。

4贯穿深度大,真正体现少子的体寿命的测量,避免表面复合效应的干扰。

5专业定制样品架最大程度地满足原生多晶硅料生产企业测试多种形状的硅材料少子寿命的要求,包括硅芯、检磷棒、检硼棒等。

二、工作条件

1温度:23±2℃

2、湿度:≤65%

3、无较强的电场干扰,电源隔离滤波,无强光直接照射。

三、技术参数

测试范围广:硅半导体材料-硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶、硅块、硅片等,锗半导体材料,抛光,研磨,裸片多种类型都可测试。

1、少子寿命测试范围:1μs-20000μs

2、电阻率范围:0.1Ω.cm-10000Ω.cm

3、激光波长:904-905nm/1.06-1.07um

4、激光在单晶硅中的贯穿深度:30μm

5、检测分辨率:0.1﹪。

6、测试点大小:<10m㎡;

7、工作频率:30MHz

8、低输出阻抗,输出功率>1W

9、电源:~220V  50Hz      功耗<50W

四、设备配置

1、少子寿命测试仪主机

2、高级读显器

3、激光光源

4、高频测试探头

5、防尘罩

6、砝码

7、标准样片

8、样册

2.本项目的交付使用期限:自合同签订之日起  60  日内。

3.交货及安装地点: 上海电力学院

4.报价要求:报价指包含安装、调试、培训以及售后服务( 一年免费售后服务,售后服务期内上门服务)等费用在内的综合报价。

5.中标单位负责为本校提供操作培训以及相应电子版的操作指导书。

6.投标单位应具备以下资质:

a)具有独立法人资格与相应的经营范围;

b)投标人应提供企业法人营业执照(复印件)、企业税务登记证(复印件)、组织机构代码证(复印件);

c)在上海市必须有固定售后服务场所及人员;

d)有良好的资产状况,提供年度年审报告、财务状况报告、依法缴纳税收和社会保障资金的相关材料。

7.本项目不接受联合体投标,仅针对中小企业。

三、提交的响应资料中须包括:

1.营业执照副本复印件一份;

2.法人代表授权书原件和被授权人代表身份证(复印件)各一份;

3.相关资质证明文件复印件;

4.厂家授权书;

5.投标单位简介;

6.近二年业绩简介;

7.售后服务承诺书;

8.联系人的固定电话、手机、电子邮箱。

  

  以上资料须盖章并装订成册(响应资料需有目录),装订格式须符合相关法律法规的要求。

  

  请合格制造商或经销商于2017815日上午9:0011:00,以密封的形式将响应资料(一式二份)送到上海电力学院实验室与资产管理处,为确保资料投送的时效性与可行性,以专人送达为宜(不接收快递)。

  

采 购 人:上海电力学院实验室与资产管理处

采购人地址:上海市杨浦区长阳路2588号行政中心805室 

      上海电力学院实验室与资产管理处

联 系 人:老师、老师

邮   编:200090

电   话:021- 35304217

传   真:021- 35304217

  


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